Óptica do sistema óptico de escaneo dinámico: lente de foco pequeno de 1 peza, lente de foco de 1-2 unidades, espello Galvo. A lente óptica enteira forma unha función da expansión do feixe, o enfoque e a desviación do feixe e a dixitalización.
A parte expansiva é unha lente negativa, é dicir, unha lente de enfoque pequeno, que realiza a expansión do feixe e o zoom en movemento, a lente de enfoque está composta por un grupo de lentes positivas.O espello galvo é espello no sistema galvanómetro.
(1) Optimización do deseño da lente: relación óptima entre diámetro e espesor
(2) Limiar de dano alto da lente:> 30J/cm2 10ns
(3) Revestimento de absorción ultra baixa, taxa de absorción: <20 ppm
(4) Relación entre espesor e diámetro do galvanómetro: 1:35
(5) Precisión da superficie da lente: <= λ/5
Lente post-obxectivo
| Pupila de entrada máxima (mm) | Óptica 1 diámetro (mm) | Óptica 2 diámetro (mm) | Óptica 3 diámetro (mm) | Campo de exploración (mm) | Apertura clara de escáner (mm) | Lonxitude de onda |
| 8 | 15 | 55 | 55 | 600 x 600 800 x 800 | 30 | 10,6 h |
| 12 | 22 | 55 | 55 | 1600 x 1600 | 30 | |
| 8 | 16 | 55 | 55 | 600 x 600 800 x 800 | 30 | 1030-1090 nm |
| 8 | 15 | 35 | 35 | 300 x 300 | 10 | 532 nm |
| 8 | 15 | 35 | 35 | 300 x 300 | 10 | 355 nm |
Espello reflector
| Descrición da parte | Diámetro (mm) | Espesor (mm) | Material | Revestimento |
| Reflector de silicona | 25.4 | 3 | Silicio | HR@10.6um,AOI: 45° |
| Reflector de silicona | 30 | 4 | Silicio | HR@10.6um,AOI: 45° |
| Reflector de fibra | 25.4 | 6.35 | Sílice fundida | HR@1030-1090nm, AOI: 45° |
| Reflector de fibra | 30 | 5 | Sílice fundida | HR@1030-1090nm, AOI: 45° |
| Reflector de fibra | 50 | 10 | Sílice fundida | HR@1030-1090nm, AOI: 45° |
| 532 Reflector | 25.4 | 6 | Sílice fundida | HR@515-540nm/532nm, AOI: 45° |
| 532 Reflector | 25.4 | 6.35 | Sílice fundida | HR@515-540nm/532nm, AOI: 45° |
| 532 Reflector | 30 | 5 | Sílice fundida | HR@515-540nm/532nm, AOI: 45° |
| 532 Reflector | 50 | 10 | Sílice fundida | HR@515-540nm/532nm, AOI: 45° |
| 355 Reflector | 25.4 | 6 | Sílice fundida | HR@355nm e 433nm, AOI: 45° |
| 355 Reflector | 25.4 | 6.35 | Sílice fundida | HR@355nm e 433nm, AOI: 45° |
| 355 Reflector | 25.4 | 10 | Sílice fundida | HR@355nm e 433nm, AOI: 45° |
| 355 Reflector | 30 | 5 | Sílice fundida | HR@355nm e 433nm, AOI: 45° |
Espello Galvo
| Descrición da parte | Pupila de entrada máxima (mm) | Material | Revestimento | Lonxitude de onda |
| 55 mm L * 35 mm W * 3,5 mm T-X 62 mm L * 43 mm W * 3,5 mm T-Y | 30 | Silicio | MMR@10.6um | 10,6 h |
| 55 mm L * 35 mm W * 3,5 mm T-X 62 mm L * 43 mm W * 3,5 mm T-Y | 30 | Sílice fundida | HR @ 1030-1090 nm | 1030-1090 nm |
| 55 mm L * 35 mm W * 3,5 mm T-X 62 mm L * 43 mm W * 3,5 mm T-Y | 30 | Sílice fundida | HR @ 532 nm | 532 nm |
| 55 mm L * 35 mm W * 3,5 mm T-X 62 mm L * 43 mm W * 3,5 mm T-Y | 30 | Sílice fundida | HR @ 355 nm | 355 nm |
Lente protectora
| Diámetro (mm) | Espesor (mm) | Material | Revestimento |
| 75 | 3 | ZnSe | AR/AR@10.6um |
| 80 | 3 | ZnSe | AR/AR@10.6um |
| 90 | 3 | ZnSe | AR/AR@10.6um |
| 90 x 60 | 5 | ZnSe | AR/AR@10.6um |
| 90 x 64 | 2.5 | ZnSe | AR/AR@10.6um |
| 90 x 70 | 3 | ZnSe | AR/AR@10.6um |
